一、仪器型号:JSM-7610F Plus
二、生产厂家: 日本电子
三、仪器价格:280万元
四、技术指标:
● 二次电子像分辨率:0.8 nm(加速电压 15 kV),1.0 nm(加速电压 1 kV ),分析时 3.0 nm (加速电压 15 kV, WD 8 mm, 探针电流 5 nA )
● 倍率:Direct magnification: x25 to 1,000,000(120 x 90 mm),Display magnification: x75 to 3,000,000(1,280 x 960 pixels)
● 加速电压:0.1 ~ 30 kV
● 探针电流:数 pA ~ 200 nA
● 电子枪:浸没式肖特基场发射电子枪
● 透镜系统:聚光镜(CL)、 最佳光阑角控制镜(ACL)、 半浸没式物镜(OL)
● 样品台:全对中测角样品台、5轴马达驱动
● 电子检测器系列:高位检测器、 r‐过滤器 内置、 低位检测器
● 自动功能:自动聚焦、自动消象散、自动亮度/衬度调节
● 图像观察用:屏幕尺寸 23英寸宽屏
● 液晶显示器:最大分辨率 1,920 × 1,080像素
● 抽真空系统:电子枪室/中间室 SIP 离子泵,样品室 TMP 分子泵
五、应用领域:
扫描电子显微镜主要用于观察固体厚试样的表面形貌,具有很高的分辨力和连续可调的放大倍数,图像具有很强的立体感。扫描电镜能够与电子能谱仪、波谱仪、电子背散射衍射仪相结合,构成电子微探针,用于物质化学成分和物相分析。因此,扫描电子显微镜在冶金、地质、矿物、半导体、医学、生物学、材料学等领域得到了非常广泛的应用。
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